X射線光電子能譜（以下簡稱：XPS）是材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術，工作原理透過X射線照射樣品表面，使其原子或分子的電子受激發射出來，測量這些光電子的能量分佈，從而獲得所需的資訊。應用不僅限於為化學研究提供分子結構和原子價態方面的資訊，還能為科研和企業研究過程中提供目標化合物的元素組成和含量、分子結構、化學鍵方面的資訊。微源今天簡單分享如何利用XPS分析樣品的元素價態。

價態又稱化合價或原子價，簡稱價，是各種元素的一個原子或原子團、基（根）與其他原子相互化合的數目。同一元素的不同價態在環境中的化學行為與生物效應有很大的不同。例如鉻同時有+2、+3、+6價，不同價態的鉻毒性差別很大，+6價鉻毒性最強，+2價鉻和鉻單質幾乎無毒性。目前在金屬加工、生物醫學、材料工程、化學化工等多領域均涉及到元素的價態研究。

案例中樣品粉末送樣，均勻研磨過200目篩，配成實驗用後使用XPS進行檢測，檢測主要研究樣品組分價態的影響規律。當多種混合物的樣品進行分析時，譜線的伴峰會比較多，儘可能的剖析出詳細的光電峰和伴峰能更加精確的研究元素價態。分析內容包括價帶譜、俄歇譜，之後檢索資料庫分析樣品元素及相關價態。

在大多情況下，元素的光電子譜線由多個價態的峰疊合在一起組成，因此必須對其進行分峰處理，使每個峰對應單一價態的元素，才能確定材料表面元素的各個價態。因為儀器工作過程入射到樣品表面的X射線束是一種光子束，所以對樣品的破壞性非常小。分析結果對企業和科研機構的研究較為有利。但 H和He的光電離介面小，訊號太弱，沒有內層電子，其外層電子用於成鍵，所以用X射線光電子能譜無法檢測。

作為一種高靈敏超微量表面分析技術，XPS測試所需試樣少，靈敏度高卻高。利用元素精掃結果進行分峰分析獲得相應的元素價態，可以幫助企業和科研機構分析化合物的推定，鹵素汙染以及表面氧化分析。實驗室X射線光電子能譜XPS可對元素價態進行檢測，按照需求進行測試，具體檢測時間以溝通結果為準。更多XPS檢測問題歡迎評論區或私信留言。

免責宣告：部分圖文來源網路，如有侵權請聯絡小編刪除，萬分感謝！